Analisis Tingkat Risiko Dan Expected Return Menggunakan Capital Asset Pricing Model (CAPM) Terhadap Keputusan Berinvestasi (Studi Pada IDX High Dividend 20 Di Bursa Efek Indonesia)

Authors

  • Dwi Urip Wardono Universitas Telkom
  • Krisna Aprileo Iskandar Putra Universitas Telkom
  • Aqil Lukmanul Hakim Universitas Telkom
  • Satria Aji Universitas Telkom

DOI:

https://doi.org/10.31004/jpdk.v5i1.11681

Abstract

Tujuan dengan adanya penelitian ini adalah membantu investor dalam memilih saham yang efisien dan tidak efisien, membuat investor dapat mengetahui saham mana yang memiliki return yang optimal dengan tingkat risiko yang berbeda-beda, dan pastinya Investor dapat mengetahui tentang metode CAPM agar dapat menentukan keputusan investasi. CAPM atau biasa disebut Capital Asset Pricing Model adalah sebuah model untuk memperkirakan expected return yang diperoleh dari sekuritas yang memiliki resiko. Sampel dipilih dengan teknik purposive sampling, yaitu sampel ditentukan dengan kriteria khusus: (1) Perusahaan yang terdaftar di Indonesia Bursa Efek dengan indeks IDX High Dividend 20 (2) Perusahaan yang sahamnya dimasukkan dalam IDX High Dividend 20 secara konsisten. Kriteria pemilihan dalam penelitian ini adalah memilih saham-saham yang memiiliki return harapan yang tinggi dengan risikonya. Hasil penelitian ini menunjukkan bahwa: Terdapat sampel 20 saham yang masuk yaitu ADMF, ADRO, ASII, BBRI, BMRI, CPIN, HEXA, HMSP, INDF, ITMG, KLBF, PTBA, TLKM, TOWR, UNTR, UNVR, ANTM, BBCA, dan BBNI. Saham tersebut memiliki return harapan dan risiko yang berbeda yang membuat investor dalam membuat keputusan memilih saham sesuai dengan karakteristiknya.

Downloads

Published

2023-01-17

How to Cite

Wardono, D. U. ., Putra, K. A. I. ., Hakim, A. L. ., & Aji, S. . (2023). Analisis Tingkat Risiko Dan Expected Return Menggunakan Capital Asset Pricing Model (CAPM) Terhadap Keputusan Berinvestasi (Studi Pada IDX High Dividend 20 Di Bursa Efek Indonesia). Jurnal Pendidikan Dan Konseling (JPDK), 5(1), 4174–4180. https://doi.org/10.31004/jpdk.v5i1.11681

Most read articles by the same author(s)